[中国发明]
CN202311803724.5
显示像素修复方法、装置、显示像素修复设备及可读存储介质
著录项
申请号
CN202311803724.5
申请日
20231225
公开号
CN117812970A
公开日
20240402
申请(专利权)人
深圳市大族半导体装备科技有限公司
当前权利人
深圳市大族半导体装备科技有限公司
发明人
彭文举
吴鸿新
袁玲
何云
尹建刚
地址
518000广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区万廷工业区第六栋101
国省代码
广东(44)
主分类号
H10K71/00
分类号
H10K71/00
H10K59/12
技术关键词
摘要
本申请涉及显示像素修复方法、装置、显示像素修复设备及可读存储介质,其中方法包括:获取显示区域内导电异物的形貌特征和位置信息;基于形貌特征,确定与导电异物对应的修复工艺参数;根据修复工艺参数和位置信息,确定导电异物对应显示像素的修复结果。该方法能够避免对显示区域内非导电异物对应正常显示像素的损伤的同时,实现对显示区域内导电异物精确蚀除,进而使得导电异物对应显示像素的有机发光层两端的电压恢复至正常工作所需电压,实现对应显示像素恢复正常显示,即显示屏暗点蚀除,有效满足对显示质量的更高要求。
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