[中国发明]
CN202111659811.9
用于石英晶体的等离子体刻蚀方法
著录项
申请号
CN202111659811.9
申请日
20211230
公开号
CN114497349A
公开日
20220513
申请(专利权)人
北京无线电计量测试研究所
当前权利人
北京无线电计量测试研究所
发明人
王作羽
潘立虎
郑文强
段友峰
崔巍
叶林
刘小光
王莉
睢建平
高远
张秋艳
地址
北京市海淀区永定路50号12号楼
国省代码
北京(11)
主分类号
H01L41/332
分类号
H01L41/332
摘要
本发明公开了一种用于石英晶体的等离子体刻蚀方法。该刻蚀方法包括:对衬底和掩蔽块进行选择,并将所述衬底设置于所述刻蚀腔内;将待刻蚀的石英晶体放置于所述衬底上,并根据需要将所述掩蔽块放置于所述石英晶体上;根据所述石英晶体的刻蚀深度需求,在所述刻蚀机上对刻蚀气体的种类、反应气体的体积混合比、刻蚀气体的流速、刻蚀腔的压强以及等离子体的功率进行控制,此后,开启所述刻蚀机以对所述石英晶体进行刻蚀。本发明不仅能够对石英晶体进行整体或者局部刻蚀,还能够保证刻蚀得到的石英晶体的精度和强度。
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