[中国发明,中国发明授权]
CN201810371730.0
一种改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法
著录项
申请号
CN201810371730.0
申请日
20180424
公开号
CN108537810A
公开日
20180914
申请(专利权)人
中国计量大学
当前权利人
中国计量大学
发明人
朱维斌
刘明佩
叶树亮
地址
310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
国省代码
浙江(33)
主分类号
G06T7/13
分类号
G06T7/13
代理机构
杭州奥创知识产权代理有限公司
代理人
王佳健
摘要
本发明公开了一种改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法。本发明具体包括:一、求解Zernike矩6×6偶数模板;二、利用Sobel算子进行初定位,获取像素级边缘点;三、利用5×5模板求解Zernike矩进行二级初定位,获取亚像素级边缘点;四、分析二级初定位下亚像素边缘点所在区间;五、根据所在区间,选取偶数模板或者奇数模板求解Zernike矩进行精定位,获取更精确的亚像素级边缘位置。本发明通过判断二次初定位边缘点所在区域,根据所在区域选取奇数模板或者偶数模板求解亚像素边缘位置,提高了算法的检测精度。
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一种改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法