[中国发明,中国发明授权]CN201711107929.4

一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法

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摘要
本发明公开了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法,包括:对任意平面阵列建立坐标系,令阵列的几何中心位于坐标原点处;用克拉美罗下界评估阵列的测向精度,需首先根据各天线的坐标计算三个重要参数:幅值、直流偏移和初相;列出克拉美罗下界关于真实方位角、真实俯仰角的函数表达式,据此绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线,若在某个真实方位角、真实俯仰角的范围内克拉美罗下界相对较小,则该处测向精度相对较高。本发明提出了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法,对变电站内任意应用条件均适用,对优化布置天线阵列具有指导作用。通过该方法优化的天线阵列,具有较高的测向性能,以及较小的阵列尺寸。

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