[中国发明,中国发明授权]
CN201710573339.4
基于扫描矩形黑体的热像仪非均匀性评价校正装置
著录项
申请号
CN201710573339.4
申请日
20170714
公开号
CN107340064A
公开日
20171110
申请(专利权)人
中国计量大学
当前权利人
中国计量大学
发明人
侯德鑫
叶树亮
地址
310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
国省代码
浙江(33)
主分类号
G01J5/52
分类号
G01J5/52
代理机构
杭州奥创知识产权代理有限公司
代理人
王佳健
摘要
本发明公开了一种基于扫描矩形黑体的热像仪非均匀性评价校正装置。本发明可实现热像仪对黑体辐射源的扫描观测,利用相同辐射源在热像仪不同像素位置的成像差异来计算非均匀性相关参数,所述黑体辐射源为矩形腔式黑体,待测热像仪安装在90度翻转装置上,90度翻转装置安装在一维平移台上,一维平移台运动方向垂直于矩形黑体辐射源的长边。本发明在比较不同像素间响应特性差异时,是基于相同黑体辐射源相同位置在不同时刻的辐射强度进行比较,因此黑体辐射源自身的非均匀性并不会直接对热像仪非均匀性评价结果带来误差。
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基于扫描矩形黑体的热像仪非均匀性评价校正装置