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CN201410507715.6
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一种减少相位测量轮廓术中多路径效应影响的方法
著录项
申请号
CN201410507715.6
申请日
20140929
公开号
CN104215201A
公开日
20141217
申请(专利权)人
四川大学
当前权利人
四川大学
发明人
刘凯
杨洋
郑晓军
吴炜
杨晓敏
地址
610065四川省成都市武侯区一环路南一段24号
国省代码
中国,CN,四川(51)
主分类号
G01B11/25
分类号
G01B11/25
技术关键词
摘要
本发明涉及如何减小在使用相位测量轮廓术进行三维测量时多路径效应引起的相位误差。使用传统相位测量轮廓术(Phase measuring profilometry,PMP)系统即可,用传统PMP算法得到亮度调制参数,对其进行差异计算后得到差异分布情况,从差异分布情况中确定受多路径效应影响严重的部分,然后根据其他部分的相位值估算受影响严重部分的相位值,最后使用校正后的相位值计算三维数据。本发明在传统PMP算法中进行了改进,避免了引入外来模型可能导致的不确定性误差和额外影响,并且方法直接有效,能全面的减小各方向的相位误差,提高了三维测量的准确度。
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