基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置

本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。