[中国发明,中国发明授权]
CN201010295455.2
基于外差式激光干涉仪的纳米静态锁定定位方法
著录项
申请号
CN201010295455.2
申请日
20100927
公开号
CN101968658A
公开日
20110209
申请(专利权)人
中国计量学院
当前权利人
中国计量学院
发明人
叶树亮
侯德鑫
李东升
杨遂军
邱建
岩君芳
陈才
地址
310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
国省代码
浙江(33)
主分类号
G05D3/12
分类号
G05D3/12
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司
代理人
杜军
技术关键词
摘要
本发明涉及一种基于外差式激光干涉仪的纳米静态锁定定位方法。传统的定位方法精度不高。本发明中的双频激光器输出两频差为的正交线偏振光,入射到光学镜组,构成外差式双频激光干涉仪。双频激光干涉仪作为微位移监测单元,实时监测微动工作台偏移锁定位置所发生的位移,同时双频激光干涉仪输出测量光,双频激光器输出参考光,测量光和参考光经光电转换后进行鉴相电路,鉴相后输出与相位差相对应的模拟电压,作为控制电压驱动微动工作台的移动。本发明省却相位差转换为位移的环节,减少了误差项,使得系统装置简单易行,且大大提高了系统的频率响应及定位精度。
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基于外差式激光干涉仪的纳米静态锁定定位方法